講演題目：測定データの解析に対する画像処理技術の適用可能性
日　　時：8月9日（金）13時30分～15時00分
場　　所：3号館3階345室

アブストラクト： 測定器から得られるデータの解析に対する画像処理技術の適用事例として、 PET画像再構成の高速化や超伝導加速空洞内部の欠陥検出について、 関連事例等を含めながら紹介します。 併せて、当該分野への適用が期待できる超解像や領域分割等の画像処理 技術についても同様に関連事例をあげながら紹介します。 最後に、測定器開発分野をはじめとした専門家の方々と測定データの解析 に対する画像処理技術の適用可能性について議論したいと思います。

13:30-　　はじめに
　・背景(経緯紹介)　幅淳二（KEK)
　・概要　　　　　　前川 秀正（みずほ情報総研株式会社　情報通信研究部　シニアマネジャー）

13:40-　　先端的な画像処理技術の適用事例
　・画像再構成と高速化　二田 晴彦（みずほ情報総研株式会社　情報通信研究部　コンサルタント）
　・画像認識 永田 毅　（みずほ情報総研株式会社　情報通信研究部　シニアマネジャー、筑波大学　ヒューマンバイオロジー学位プログラム　教授（グローバル教育院））

14:10-　　先端的な画像処理技術の適用可能性
　・測定データの解析に適用可能な画像処理析技術 永田 毅（同上）

14:40-　　自由討議

担　　当：幅 (junji.haba_at_kek.jp)