関連するお知らせ 

 

★20171023
国際検出器スクール EDIT2018
有意義な実習教育プログラムが来年3月にFermiLabで開催されます。
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EDIT2018
March 5-16, 2018
Fermilab, Batavia, IL
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★20161205 
「2015 at KEK :Annual Report」が発行されました。
測定器開発室報告は3.5 先端加速器推進部のP32-33にあります。

 


2018年優秀修士論文賞
応募論文募集中

締切:平成30年2月28日(水)
17時到着分まで

 

詳細はこちら

 

これまでの情報
Topics
 

[プレスリリース世界最高精度の放射線測定センサーを開発]
2017年6月23日にKEKと筑波大から下図のようなプレスリリースを行なった。これは、5月に北京で開催されたTechnology and Instrumentation in Particle Physics (TIPP2017)会議で発表した内容で、SOI検出器により高エネルギー陽子ビームの位置分解能0.7 mmを達成したというものである。
続きはこちら


SOIピクセルセンサー、FNALビームテストで世界最高のトラッキング精度を実証
隣り合うピクセルでの電荷の分割比を使うことで、荷電粒子入射位置の測定精度は、ピクセルピッチに対して格段に良くなることはよく知られているが、その到達精度はセンサーのS/N により決まってくる。(中略)高精度トラッキングの測定器として、SOI ピクセルがうってつけのデバイスであることを示している。
SOI プロジェクトではその特性の実証用として、二つのシリーズのチップを開発している。一つは究極の微細ピクセルを目指して8μmのピッチサイズのピクセルアレイを実現したFPIX(図1)。 詳細は
こちら


図1
最新活動報告 これまでの報告  
2018年1月
最近の Silicon-On-Insulator (SOI) ピクセル検出器関係のトピックをご紹介します。

[IEDM招待講演]
2017年12月2-6日にサンフランシスコで開催された、半導体デバイスの国際会議で最も権威があると言われる International
Electron Devices Meeting (IEDM) において招待講演を行いました。
”SOI Monolithic Pixel Technology for Radiation Image Sensor”と題して発表を行い、特に新しく考案したPinned Depleted Diode(PDD) 構造に注目されました。
図 1. PDD構造

[HSTD11&SOIPIX2017国際会議@沖縄]
2017年12月10-15日の間、沖縄科学技術大学院大学(OIST)において、第11回
“Hiroshima” Symposium on the Development and Application of Semiconductor Tracking detectors (HSTD11)と第2回Workshop on SOI Pixel Detector (SOIPIX2017)  の合同国際会議を開催。海外からの参加者約120名を含め、例年の倍近い約190名の参加者があり、素晴らしい環境のもと、最新の成果発表と活発な議論が行われました。

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セミナー案内 (詳細)

これまでの講演

Advanced technology for ILC calorimeters
Prof. Jean-Claude Brient and Mr. Jerome Nanni
(Laboratoire Leprince Ringuet, Ecole polytechnique, France) 

Our Projects
現在進行中のプロジェクト
MPGD | PPD | SCD | SOI |
Liq.TPC Ar , Xe |
ASIC | FSCI |
CO2冷却システム

これまでのプロジェクト
DAQFPIX

ユーザーと分野

測定器開発室のプロジェクトに参加するユーザーは国内外でおよそ220人で、活発に研究活動を行っています。

Fig. 1 プロジェクトと共同研究者数
(2016年度)

これまでの報告書
2016年度研究成果報告
(暫定版)
2015年度研究成果報告
659kb pdf
2014年度研究成果報告
794kb pdf
○2013年度レビュー委員会(2013.12.10) 活動報告 7Mb pdf

Last modified: 01/16/2018   Contact : 測定器開発室事務室
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