関連するお知らせ 


★20170202 
5月22日~26日 マイクロパターンガス検出器(MPGD)の国際会議が
テンプル大学 (Philadelphia 米国)で開催されます。
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★20161205 
「2015 at KEK :Annual Report」が発行されました。
測定器開発室報告は3.5 先端加速器推進部のP32-33にあります。


★測定器開発室関連の会議情報

2017/
1/16 - 18
AFAD at Lanzhou
2017/
2/27-3/4
INSTR2017 at Novosibirsk
2017/
5/9-12
TYL workshop at Strasburg(期間中の2日間)
2017/
5/22-26
TIPP2017 at Beijing (not IHEP)
2017/
5/22-26
MPGD2017 at
Temple Univ., Philadelphia, USA
2017/
7/3-7
NDIP 17 at France


 


2017年優秀修士論文賞

沢山のご応募を頂きまして、
ありがとうございました。

 

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これまでの情報
Topics


―SOIピクセルセンサー、FNALビームテストで世界最高のトラッキング精度を実証-

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最新活動報告 これまでの報告  

2017年4月
 ―SOIピクセルセンサー、FNALビームテストで世界最高のトラッキング精度を実証-

 測定器開発室では、SOI ピクセルを使った荷電粒子の高精度飛跡検出器(トラッキング)も、最重要な課題として取り組んでいる。こうした応用では、SOI の以下のような特長を活かしてこれまでにない高精度(高位置分解能)の測定ができると期待されてきた。
1. モノリシック構造がもたらす、ボンディング技術に制限されない超微細なピクセル
2. 高抵抗シリコンによる独立したセンサー層に形成される十分な厚みの空乏層による大きな信号電荷とその適度な広がり
3. フロントエンドエレクトロニクスが直結されることによる低ノイズと高機能

 隣り合うピクセルでの電荷の分割比を使うことで、荷電粒子入射位置の測定精度は、ピクセルピッチに対して格段に良くなることはよく知られているが、その到達精度はセンサーのS/N により決まってくる。したがって、上記に列記した特長は高精度トラッキングの測定器として、SOI ピクセルがうってつけのデバイスであることを示している。SOI プロジェクトではその特性の実証用として、二つのシリーズのチップを開発している。一つは究極の微細ピクセルを目指して8μmのピッチサイズのピクセルアレイを実現したFPIX(図1), もう一つは将来のILC 実験などでの崩壊点検出器での実用を視野に入れて、要求される機能性を盛り込んだ大きめのピクセルサイズ(20μm)を持つSOFIST である。


図1


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セミナー案内 (詳細)
2017年4月18日(火)16時-17時
4号館3階346室
宮原正也氏(素核研,卓越准教授)
"先端CMOSプロセスを用いたデータコンバータ回路技術とその応用 "

これまでの講演

Our Projects
現在進行中のプロジェクト
MPGD | PPD | SCD | SOI |
Liq.TPC Ar , Xe |
ASIC | FSCI |
CO2冷却システム

これまでのプロジェクト
DAQFPIX

ユーザーと分野

測定器開発室のプロジェクトに参加するユーザーは国内外でおよそ230人で、活発に研究活動を行っています。

statistics

Fig. 1 プロジェクトと共同研究者数
(2015年度)

これまでの報告書

2015年度研究成果報告
659kb pdf
2014年度研究成果報告
794kb pdf
○2013年度レビュー委員会(2013.12.10) 活動報告 7Mb pdf

Last modified: 04/18/2017
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