関連するお知らせ 


★20170616
先端計測制御概論"先端における科学・技術の連携”他大学解放講義
日時:7月19〜20日
場所:長野県飯田市
主催:総合研究大学院大学

★20170603
「3次元半導体検出器で切り拓く新たな量子イメージングの展開」 第8回研究会開催
日程:2017年6月29日(木) ~ 30日(金)
場所:宮崎大学

★20161205 
「2015 at KEK :Annual Report」が発行されました。
測定器開発室報告は3.5 先端加速器推進部のP32-33にあります。


★測定器開発室関連の会議情報

2017/
1/16 - 18
AFAD at Lanzhou
2017/
2/27-3/4
INSTR2017 at Novosibirsk
2017/
5/9-12
TYL workshop at Strasburg(期間中の2日間)
2017/
5/22-26
TIPP2017 at Beijing (not IHEP)
2017/
5/22-26
MPGD2017 at
Temple Univ., Philadelphia, USA
2017/
7/3-7
NDIP 17 at France


 


2017年優秀修士論文賞決定!

受賞されたお二人には
心よりお祝いを申し上げます。

中尾 光孝氏(東京大学)
「MEG II 実験陽電子タイミングカウンターの製作および較正と大強度ミュー粒子ビームによる性能評価」 

池田迪彦氏(東北大学)
「シグマ陽子散乱実験のためのBGO カロリメータシステムの構築」

詳細はこちらから

 

これまでの情報
Topics

SOIピクセルセンサー、FNALビームテストで世界最高のトラッキング精度を実証

隣り合うピクセルでの電荷の分割比を使うことで、荷電粒子入射位置の測定精度は、ピクセルピッチに対して格段に良くなることはよく知られているが、その到達精度はセンサーのS/N により決まってくる。(中略)高精度トラッキングの測定器として、SOI ピクセルがうってつけのデバイスであることを示している。
SOI プロジェクトではその特性の実証用として、二つのシリーズのチップを開発している。一つは究極の微細ピクセルを目指して8μmのピッチサイズのピクセルアレイを実現したFPIX(図1)。 詳細はこちら


図1
最新活動報告 これまでの報告  

2017年6月

 5 月21−26日中国北京のオリンピック会場跡地にあるBeijing International Business Center において、第4 回のTechnology and Instrumentation in Particle Physics(TIPP2017)が開催された。これは2009年KEK の主催にてつくば市でその第一回が始まった、我々には因縁浅からぬ国際会議である。今回も測定器開発室関係の研究から7件の講演が採択され、成果発表を行なった。
 中でも注目を集めたのは、SOI ピクセルセンサーについての最近の進展で、Double SOI を使ったセンサーの高い放射線耐性の実現、高エネルギービームを用いた試験によるサブミクロン一精度の位置分解能の実証(機構会議報告、本年4月を参照)、同じくアナログメモリーを使ったILC向け新型計数型ピクセルチップによる2ミクロンを切る位置精度の実証など枚挙にいとまがない。
続きはこちら 


セミナー案内 (詳細)

 

 


これまでの講演

Our Projects
現在進行中のプロジェクト
MPGD | PPD | SCD | SOI |
Liq.TPC Ar , Xe |
ASIC | FSCI |
CO2冷却システム

これまでのプロジェクト
DAQFPIX

ユーザーと分野

測定器開発室のプロジェクトに参加するユーザーは国内外でおよそ220人で、活発に研究活動を行っています。

Fig. 1 プロジェクトと共同研究者数
(2016年度)

これまでの報告書
2016年度研究成果報告
(暫定版)
2015年度研究成果報告
659kb pdf
2014年度研究成果報告
794kb pdf
○2013年度レビュー委員会(2013.12.10) 活動報告 7Mb pdf

Last modified: 06/20/2017
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